LCR数字电桥取得新的发展

      在LCR数字电桥 取得新的发展所讲介绍中，让大家了解了一些不为人知的问题或知识，但对"苏州腾斯凯电子科技有限公司"所在的这个行业大家还是比较陌生的，今天我们就来了解一下:

  LCR数字电桥需要进行开机预热操作，即插上电源插头，打开电源开关，预热10分钟，待机内达到热平衡后，进行正常测试。可以进行电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。可采用轴向转接头，先把这两个配件分别插入测试夹的两端，再将其间距调正到适合元件测量的位置，然后便将轴向引线元件插入两端的配件夹内。LCR数字电桥的发展前景可观。

  LCR数字电桥可zui大程度满足现有条件测试：10Hz～300kHz，共计12万点，zui高到300kHz的测试频率，0.01V至2.00V的任意电平，内置和外部可输入的直流偏置，zui大200次平均，14档分选结果输出。支持zui高115200波特率，可通过计算机更快捷的控制仪器所有功能，更能通过客户端软件的设计完成数据统计分析和打印测试结果等功能。

  在操作LCR数字电桥时，应在技术指标规定的环境中工作，仪器特别是连接被测件的测试导线应远离强电磁场，以免对测量产生干扰。测试夹具或测试电缆应保持清洁，以保证被测件接触良好，夹具簧片调整至适当的松紧程度.

  LCR数字电桥信号源输出阻抗如何选择?电桥的信号源阻抗随着量程的变化而变化的，这样，不同的元件测量时的实际电平变化极大，这对某些器件的测量是不合理的。国际先进及认可的输出阻抗方法为100Ω如Agilent4284ALCR，LCR数字电桥取得新的发展Agilent4980A、Agilent4263B 等。

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  1.精确的陶瓷电容测量

  1kHz和1MHz是陶瓷材料和电容器的主要测试频率。陶瓷电容器具有低损耗值的特征，同时其容量、损耗施加之交流信号会产生明显的变化。仪器具有宽频测试能力并可提供良好的准确度，六位分辨率和自动电平控制(ALC)功能等，中以满足陶瓷材料和电容器可靠、准确的测试需要。

  2.液晶单元的电容特性测量

  电容-电压(C-Vac)特性是评价液晶材料性能的主要方法，常规仪器测量液晶单元的C-Vac特性遇到一个问题是zui大测试电压不够。使用扩展测量选件可提供分辨率为1%及zui高达20Vms的可编程测试信号电平，使它能在zui佳条件下进行液晶材料的电容特性测量。

  3.半导体材料和元件的测量

  进行MOS型半导体制造工艺评价时，需要氧化层电容和衬底杂质密度这些参数，这些可从C-Vdc特性的测量结果推导出来。通过提供的直流源，结合各种扫描功能，可以方便地完成C-VDC特性的测量。为了测试晶圆上的半导体器件，需要延伸电缆和探头，仪器的1m/2m/4m延伸电缆选件可将电缆延伸的误差降至zui小。

  4.各种二极管、三极管、MOS管的分布电数字容LCR数字电桥都适用哪些?也是本仪器的测试内容。

  从上面我们可以看出LCR数字电桥的适用范围相当广泛，LCR数字电桥使用内部/外部直流偏置，结合各种扫描测试功能，可以精确地分析磁性材料、电感器件的性能。值得一提的是如今的数字电桥多参数同时显示可满足复杂元件各种分布参数的全面观察与评估要求，而不必反复切换测量参数!

  通过本文的介绍，相信大家对于“LCR数字电桥取得新的发展”有了一定的了解，如果想了解、LCR数字电桥厂家、苏州腾斯凯电子科技有限公司等其他相关的知识，请跟我们联系!